0.1um高精度隔膜測厚儀

CHY-U高精度測厚儀

       測試原理：

       測厚儀采用接觸式測試原理，截取一定尺寸試樣，測厚儀測量頭自動降落于試樣之上，依靠固定的壓力和固定的接觸面積下測試出試樣的厚度值。

      應用范圍：

       1、用于薄膜、電池隔膜、電容薄膜材料等軟質材料厚度精確測量；

       2、對金屬箔片、鋁箔片、銅箔片等硬質材料厚度精確測量；

       3、接觸式測試原理更有效的檢測出太陽能硅片上每個點的厚度值；

       4、通過調節測量頭可完整紙張規定的壓力和面積，完整各種紙張、紙板材料厚度測試；

    技術特征：

       ★微電腦控制、大液晶顯示

       ★高精度傳感器，保證了測試精度

       ★嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力，同時支持 各種非標定制

       ★測量頭自動升降，避免了人為因素造成的系統誤差

       ★手動、自動雙重測量模式，更方便客戶選擇

       ★配備微型打印機，數據實時顯示、自動統計、打印， 方便快捷地獲取測試結果

       ★打印每次測量結果，方便 用戶分析數據

       ★儀器自動保存多100組測試結果，隨時查看并打印

       ★標準量塊標定,方便用戶快速標定設備

       ★測厚儀手動進樣，儀器可配置自動進樣器進行自動測試（自動進樣器選配）

       ★專業軟件提供測試結果圖形統計分析，準確直觀地將 測試結果展示給用戶

       ★配備標準RS232接口，方便系統與電腦的外部連接和數據傳輸（通訊軟件選配）

主要參數：

       測量范圍：0-2mm （其他量程可定制）

       分辨率 ：0.1um

       測量速度：10 次/分（可調）

       測量壓力：17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（紙張）

       接觸面積：50mm2（薄膜），200mm2（紙張）    注：薄膜、紙張任選一種

       進樣步矩：0 ～ 1300 mm(可調)（選配功能）

       進樣速度 ：0 ～ 120 mm/s(可調)（選配功能）

       外形尺寸：450mm×340mm×390mm

       重量：13kg